| Quarz-Name | Quarzglasplatte |
|---|---|
| Material | 99,99% |
| Helle Beförderung | 92% |
| Dichte | 2.2g/cm3 |
| Arbeits-Temparature | 1100℃ |
| Produktbezeichnung | Quarzglasstab |
|---|---|
| Material | SIO2>99.99% |
| Dichte | 2.2g/cm3 |
| Helles Transimittance | 92% |
| Härte | Morse 6,5 |
| Material | SIO2>99.99% |
|---|---|
| Od | 3-300mm |
| Helle Beförderung | >92% |
| Arbeits-Temparature | 1100℃ |
| Härte | Morse 6,5 |
| Produkt-Name | Platte hohes UVdes getriebe-Rechteck-klare fixierten Silikon-SIO2 |
|---|---|
| Material | Sio2 |
| Härte | Morse 6,5 |
| Betriebstemperatur | 1100℃ |
| Dieletric-Stärke | 250~400Kv/cm |
| Produktbezeichnung | Quarzglasstab |
|---|---|
| Material | SIO2>99.99% |
| Dichte | 2.2g/cm3 |
| Helles Transimittance | 92% |
| Härte | Morse 6,5 |
| Material | 99,99% |
|---|---|
| Helle Beförderung | 92% |
| Dichte | 2.2g/cm3 |
| Arbeits-Temparature | 1100℃ |
| Härte | Morse 6,5 |
| Name | Quarzglasröhre |
|---|---|
| Anwendung | Quellen, Halbleiter |
| Material | SiO2> 99,99% |
| Besonderheit | Gute elektrische Isolierung |
| leichte Durchlässigkeit | > 92% |
| Material | 99,99% |
|---|---|
| Helle Beförderung | 92% |
| Dichte | 2.2g/cm3 |
| Arbeits-Temparature | 1100℃ |
| Härte | Morse 6,5 |
| Produktbezeichnung | Quarzglasstab |
|---|---|
| Material | SIO2>99.99% |
| Dichte | 2.2g/cm3 |
| Helles Transimittance | 92 Prozent |
| Härte | Morse 6,5 |
| Produktname | Präzisions-Glasbearbeitung |
|---|---|
| Material | Sio2 |
| Härte | Morse 6,5 |
| Betriebstemperatur | 1100℃ |
| Oberflächenbeschaffenheit | 20/40 oder 40/60 |